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InGaAs線陣掃描相機 C15333-10E
SWIR（短波紅外）成（chéng）像（xiàng）是（shì）無損檢測的絕佳解決方案。它可以（yǐ）根（gēn）據物體表麵SWIR光譜特征區分材料，並提供安全便捷的方法來保證產品質量，包括檢（jiǎn）查包裝（zhuāng）中的液體質量，檢查密封（fēng）容器裏的內容以及檢測（cè）農產品中的損壞和雜誌等。另外（wài），還（hái）可以在半導（dǎo）體工業（yè）中進行矽晶圓的太陽能電池缺陷檢查。
品牌：Hamamatsu
型號：C15333-10E
產品特點
· SWIR高靈（líng）敏度，覆蓋950 nm到1700 nm的光譜範圍
· 大視場高分辨率，1024像素線陣
· 高行頻輸出，最大線路（lù）速率：40 kHz
· 緊湊輕巧的設計：49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.)
· 小巧輕便，重量約250克
· 高質量的圖像以及優秀的矯正功能
· GigE Vision接口
典型應用
· 食品和（hé）農產品（pǐn）（損壞檢查，質量篩選，材料歧視等）
· 半導體（矽晶片圖案檢查，EL / PL的太陽能電池檢查等）
· 工業（水分，泄漏檢測，容（róng）器檢查等）
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產品介紹

SWIR（短波紅外）成像是無損檢測的絕（jué）佳解決方案。它可以根據物體表麵（miàn）SWIR光譜（pǔ）特征區（qū）分材（cái）料，並提供（gòng）安全便捷（jié）的方法（fǎ）來保證產品質量，包括檢查包裝中的液體質量，檢查密封容器裏的內容以及檢測（cè）農產品中的損壞和雜誌等。另外，還可以在半導體工業中進行矽（guī）晶圓的太陽能電池缺陷檢查。

光譜響應範圍

4.jpg

外形尺寸圖（單位：mm）

5.jpg


產品型（xíng）號及主要指標
型號/model C15333-10E
有效（xiào）像（xiàng）素數 1024 (H) × 1 (V)
像素尺（chǐ）寸（cùn） 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
有效麵積 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
滿阱容量 Gain 0: 4.0 M electrons
Gain 1: 0.76 M electrons
Gain 2: 0.16 M electrons
Gain 3: 0.051 M electrons
讀出速度 Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time)
Sync readout: 40 kHz
曝光時間（jiān） 21 μs to 1 s (1 μs step)
外部觸發輸入 Sync readout
外（wài）部觸發信號路徑 12 pin SMA or HIROSE connector
圖像處理功能 Background subtraction, Real time shading correction
接口（kǒu） Gigabit Ethernet
A/D轉換器 14 bit
鏡頭卡口 C mount
電源 DC 12 V
量子效率 above 60 % (1100 nm ～ 1600 nm) *
功耗 6 W max.
推薦環境工作溫度（dù） 0 ℃ to +40 ℃
環境儲存（cún）溫度 -10 ℃ to +50 ℃
環境工作濕度 30 % to 80 % (with no condensation)
環境儲存濕（shī）度 90 % max. (with no condensation)
成像器件（jiàn） InGaAs line sensor
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