采用（yòng）專利最大最小搜索技（jì）術，PDL測試儀（yí）能在30 ms內，同時測量待測（cè）器件的偏振相關損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這（zhè）種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高（gāo）和較低PDL值的（de）器件在任何時刻的測（cè）量（liàng）精度，可獲得最精確的PDL值（zhí）。
采用專利最大（dà）最小搜（sōu）索技術，PDL測試儀能在30 ms內，同時測量待（dài）測器件的偏振相關損耗（PDL），插入損（sǔn）耗（IL）和光功率。使用擾偏法（fǎ）測量的PDL具有（yǒu）很高的不確定性。與這種方法不（bú）同（tóng），PolaCHEXTM有條（tiáo）理地搜索最大和（hé）最小透過率（lǜ），確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度，可獲得最精確的PDL值。
PolaCHEX覆蓋了較寬的波長範圍（wéi）：1260~1650 nm，無需波長校準，比基於Mueller矩陣方法測得（dé）的PDL值更準確。它帶有USB、以太網、GPIB和RS-232接（jiē）口，用於電（diàn）腦控製。能快速、精確測量與波長相關的無源器件的特性，尤其適用於製造或實驗室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較（jiào）快的（de）測量速（sù）度，較大的測量動態範圍（wéi），更（gèng）明亮的顯（xiǎn）示屏，以及用於集成的附加（jiā）模擬輸出端口。
| 參數 | 主要參數信息 |
| PDL-201 | |
| 波長 | 1260-1620 nm |
| 分辨率 | 0.01 dB |
| PDL 精確度1,2,3 | ±(0.01 + 5% of PDL) (dB) |
| PDL 重複性（xìng）1 | ±(0.005 + 2% of PDL) (dB) |
| PDL 動態範圍4: | 0 to 45 dB |
| IL 精確（què）度1,2,3 | ±(0.01 + 5% of IL) (dB) |
| IL 重複（fù）性1 | ±(0.005 dB + 2% of IL) (dB) |
| IL 動態範圍4 | 0 to 45 dB |
| 輸入光功率 | -40 to 6 dBm |
| 光功率精度 | ±0.25 dB |
| 波長校（xiào）準( 功率測量) | 1260-1360 nm ； 1440-1620 nm |
| 測量速度 | 30 ms/次（cì） (input >-30 dBm) |
| 操作溫度 | 0 to 50℃ |
| 存儲（chǔ）溫（wēn）度 | -20 to 70℃ |
| 光連接器類型 | 光源（yuán）、 DUT 輸入（rù）: APC |
| DUT輸出（chū）: 自由空間適配器 | |
| 模擬輸出 | 0-4V PDL監（jiān）控電壓 (用戶自定義PDL範圍) |
| (0-3.5V PDL線性變（biàn）化, 4V 指示低功率) | |
| 電源供應 | 100–240VAC, 50–60Hz |
| 通訊（xùn）接口 | USB, Ethernet, RS-232, and GPIB |
| 尺寸（cùn） | 2U, 19” 半架寬度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L) |
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備注:數據在23±5°C溫度下，10組平均值所得。精確的偏振相關損耗（hào）測試還取決於測試設（shè）置。輸入功率 ≥0 dBm，用（yòng）戶自定義功率計（jì）測量模式。
